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GB_T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Ed自由跌落(回收站2024-12-11 16:10)
2024-12-11
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GB_T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分-試驗方法 試驗Fdb-寬頻帶隨機振動-中再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Fda 寬頻帶隨機振動—低再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分-試驗方法 試驗Fda-寬頻帶隨機振動-高再現(xiàn)性
2024-12-11
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GB_T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ga：和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
2024-12-11
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GB_T 2423.16-2022 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導(dǎo)則：長霉
2024-12-11
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GB_T 2423.18-2021 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
2024-12-11
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GB_T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧
2024-12-11
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GB_T 2423.10-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Fc：振動(正弦)
2024-12-11
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GB_T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Fd寬頻帶隨機振動—一般要求
2024-12-11
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